Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie

Um die kleinsten Strukturen von Polymeren, Fasern und Garnen zu vergrößern und bildlich darzustellen, verfügen die DITF über ein breites Spektrum an Licht- und Rasterelektrodenmikroskopen und haben langjährige Erfahrung in der Anwendung unterschiedlichster Mikroskopieverfahren.

FE-Rasterelektronenmikroskop mit FIB

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- ZEISS Auriga
ZEISS Auriga

hochauflösende Feldemssions-REM mit

  • FIB (Focused Ion Beam) – zum in-situ-Schneiden der Proben mittels Ionenstrahl
  • EDX-Detektor – für Mikrobereichsanalytik
  • verschiedenen Detektoren (Inlens, Everhardt-Thornley, 4-Quadranten-BSE, ESB, STEM) für optimale Bilderzeugung
  • Charge Comensation – zur Verringerung von Aufladungen nichtleitender Proben

Sputter- und Bedampfungseinrichtungen

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Hochleistungssputter von QT
Hochleistungssputter von QT

um leitfähige Oberflächenbeschichtung herzustellen. Schichtdicken sind reproduzierbar. Beschichtet werden kann mit Platin-Palladium, Kohlenstoff, Chrom, Gold-Palladium, Gold

Universelles Forschungsmikroskop

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Zeiss Axioplan
Zeiss Axioplan

mit Einrichtungen für

  • Phasenkontrast
  • Differentiellen Interferenzkontrast
  • Polarisation
  • Auflicht-Fluoreszenz

Auflicht-Mikroskop

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Zeiss Axioskop
Zeiss Axioskop

für die Untersuchung von materialographischen Anschliffen. Kontrastverfahren Hellfeld, Dunkelfeld, Differentieller Interferenzkontrast.

Materialwissenschaftliches Stereomikroskop

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Zeiss Stereomikroskop Discovery V12
Zeiss Stereomikroskop Discovery V12

zur Charakterisierung 3-dimensionaler Strukturen. Sehr hoher Vergrößerungsbereich. Chromatisch-plankorrigierte Objektive. Makroskop-Funktion (ermöglicht Aufnahmen mit erweiterter Tiefenschärfe). Sehr umfangreiche Beleuchtungsmöglichkeiten. Motorische Steuerung.

Polarisationsmikroskop

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Leitz Laborlux 12Pol Polarisationsmikroskop
Leitz Laborlux 12Pol Polarisationsmikroskop

für polarisationsoptische Messungen in Orthoskopie (z.B. Doppelbrechungsmessung an Fasern) und Konoskopie (Lage der optischen Achse). Umfangreiches Zubehör an Kompensatoren.

Hochauflösende Mikroskopcamera

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Zeiss AxioCam MRc5 Mikroskopcamera
Zeiss AxioCam MRc5 Mikroskopcamera

mit universalem Adapter für alle Mikroskope. Peltier-gekühlter Sensor für rauscharme Bilder bei schwierigen Beleuchtungssituationen.

Konfokales Raman-Mikroskop

Geräteausstattung Licht- und Rasterelektronenmikroskopie des Deutsche Institute für Textil- und Faserforschung- Witec Ramanmikroskop
Witec Ramanmikroskop

zur Materialcharakterisierung. Differenzierung von Kunststoffen, Carbonfasern, Flüssigkeiten etc. Strukturanalyse an Faseroberflächen und -querschnitten.