Um die kleinsten Strukturen von Polymeren, Fasern und Garnen zu vergrößern und bildlich darzustellen, verfügen die DITF über ein breites Spektrum an Licht- und Rasterelektrodenmikroskopen und haben langjährige Erfahrung in der Anwendung unterschiedlichster Mikroskopieverfahren.
FE-Rasterelektronenmikroskop mit FIB

hochauflösende Feldemssions-REM mit
- FIB (Focused Ion Beam) – zum in-situ-Schneiden der Proben mittels Ionenstrahl
- EDX-Detektor – für Mikrobereichsanalytik
- verschiedenen Detektoren (Inlens, Everhardt-Thornley, 4-Quadranten-BSE, ESB, STEM) für optimale Bilderzeugung
- Charge Compensation – zur Verringerung von Aufladungen nichtleitender Proben
Sputter- und Bedampfungseinrichtungen

um leitfähige Oberflächenbeschichtung herzustellen. Schichtdicken sind reproduzierbar. Beschichtet werden kann mit Platin-Palladium, Kohlenstoff, Chrom, Gold-Palladium, Gold
Universelles Forschungsmikroskop

mit Einrichtungen für
- Phasenkontrast
- Differentiellen Interferenzkontrast
- Polarisation
- Auflicht-Fluoreszenz
Auflicht-Mikroskop

für die Untersuchung von materialographischen Anschliffen. Kontrastverfahren Hellfeld, Dunkelfeld, Differentieller Interferenzkontrast.
Materialwissenschaftliches Stereomikroskop

zur Charakterisierung 3-dimensionaler Strukturen. Sehr hoher Vergrößerungsbereich. Chromatisch-plankorrigierte Objektive. Makroskop-Funktion (ermöglicht Aufnahmen mit erweiterter Tiefenschärfe). Sehr umfangreiche Beleuchtungsmöglichkeiten. Motorische Steuerung.
Polarisationsmikroskop

für polarisationsoptische Messungen in Orthoskopie (z.B. Doppelbrechungsmessung an Fasern) und Konoskopie (Lage der optischen Achse). Umfangreiches Zubehör an Kompensatoren.