Um die kleinsten Strukturen von Polymeren, Fasern und Garnen zu vergrößern und bildlich darzustellen, verfügen die DITF über ein breites Spektrum an Licht- und Rasterelektrodenmikroskopen und haben langjährige Erfahrung in der Anwendung unterschiedlichster Mikroskopieverfahren.
FE-Rasterelektronenmikroskop mit FIB
hochauflösende Feldemssions-REM mit
- FIB (Focused Ion Beam) – zum in-situ-Schneiden der Proben mittels Ionenstrahl
- EDX-Detektor – für Mikrobereichsanalytik
- verschiedenen Detektoren (Inlens, Everhardt-Thornley, 4-Quadranten-BSE, ESB, STEM) für optimale Bilderzeugung
- Charge Compensation – zur Verringerung von Aufladungen nichtleitender Proben
Sputter- und Bedampfungseinrichtungen
um leitfähige Oberflächenbeschichtung herzustellen. Schichtdicken sind reproduzierbar. Beschichtet werden kann mit Platin-Palladium, Kohlenstoff, Chrom, Gold-Palladium, Gold
Universelles Forschungsmikroskop
mit Einrichtungen für
- Phasenkontrast
- Differentiellen Interferenzkontrast
- Polarisation
- Auflicht-Fluoreszenz
Auflicht-Mikroskop
für die Untersuchung von materialographischen Anschliffen. Kontrastverfahren Hellfeld, Dunkelfeld, Differentieller Interferenzkontrast.
Materialwissenschaftliches Stereomikroskop
zur Charakterisierung 3-dimensionaler Strukturen. Sehr hoher Vergrößerungsbereich. Chromatisch-plankorrigierte Objektive. Makroskop-Funktion (ermöglicht Aufnahmen mit erweiterter Tiefenschärfe). Sehr umfangreiche Beleuchtungsmöglichkeiten. Motorische Steuerung.
Polarisationsmikroskop
für polarisationsoptische Messungen in Orthoskopie (z.B. Doppelbrechungsmessung an Fasern) und Konoskopie (Lage der optischen Achse). Umfangreiches Zubehör an Kompensatoren.
Hochauflösende Mikroskopcamera
mit universalem Adapter für alle Mikroskope. Peltier-gekühlter Sensor für rauscharme Bilder bei schwierigen Beleuchtungssituationen.
Konfokales Raman-Mikroskop
zur Materialcharakterisierung. Differenzierung von Kunststoffen, Carbonfasern, Flüssigkeiten etc. Strukturanalyse an Faseroberflächen und -querschnitten.