Die von ZEISS entwickelte Bildanalyse AxioVision steuert nicht nur Mikroskope und Kameras, sondern wird auch für Messaufgaben an den mikroskopischen Bildern eingesetzt. Dadurch lassen sich Werkstoffparameter als Daten erfassen. Zu den Möglichkeiten der Bildanalyse gehören u.a.:
- Auswertung geometrischer Parameter (Flächen, Rundheiten, Längen, Winkel etc.)
- Zeitreihenaufnahmen – um Änderungen in der Probe über die Zeit zu erfassen
- Tiefen- und Topographiemessungen – ermöglicht durch geeichten Z-Trieb
- Image-Stacking – zur Erweiterung der Tiefenschärfe wird ein Bild aus mehreren Bildern verschiedener Fokusebenen berechnet
- Darstellung von Grau- oder Farbtonwertverteilung als Linienprofil – z.B. um die Gleichmäßigkeit der Durchfärbung eines Faserquerschnitts zu vermessen
- Makroprogrammierung – um im automatisierten Prozess eine große Datenmenge zu erzeugen, die statistische Aussagen zulässt